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5-6.TEST命令 ( Logical Compare ) ：論理的比較

　　 TEST命令は「論理積( Logical product )」を表す。すなわち「AND」命令と同じである。何が違うかというと、下に示したようにDESTがなく、結果は保持されないことである。では何が変化するかというと、フラグである。２つのオペランドの論理積をとり、そのフラグだけ反映する命令である。

TEST ( Logical Compare ) ：論理的比較

 
TEST	SRC1,SRC2

　　動作: SRC1 and SRC2 のフラグのみ反映
　　影響を受けるフラグ：OF=0,CF=0,ZF,SF,PF,AF
    SRC1：レジスタ、メモリー
    SRC2：レジスタ、メモリー、即値（ただしメモリー、メモリーの組み合わせは除く）


用途
・ビットの検査
あるビットが1ならばジャンプする例 
	　:
	　:
	test	al,00011000b
	jnz	XXX45:		;ALの4,5bitがともに1ならジャンプ
	test	al,00000001b
	jnz	XXX01;		;ALの下位1bitが1ならジャンプ
	　:
論理的比較 【86】
【書式】 
 TEST  dest,source
 
 dest   = reg/mem   source = reg/mem/imm
【ﾌﾗｸﾞ】
OF DF IF TF SF ZF ?? AF ?? PF ?? CF
０ − − − Ｘ Ｘ − ？ − Ｘ − ０
【動作】
dest とsource の論理積をとり、結果に従ってﾌﾗｸﾞを設定します。
dest AND source
【備考】
  • 結果が格納されないことを除き、AND命令と動作は同じです。
【用例】 
 

 

TEST  [FLAG],00001111B ;
下位4ﾋﾞｯﾄのどれかがONか検査 
JNZ   ANYON            ;
何れかがONで分岐
; 
TEST  [FLAG],00000001B ;
最下位ﾋﾞｯﾄがONか検査 
JNZ   LOWER            ;
最下位ﾋﾞｯﾄがONで分岐
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